TRICLOPS是一款紧凑型、快速扫描VIS-NIR-SWIR-MIR光谱仪。它采用基于时域傅立叶变换检测的技术，可以极其精确地监测光源的发射光谱，并测量吸收、透射或反射光谱。
产品特点：
较宽的光谱覆盖范围
光谱分辨率高
可调且快速的刷新率
高灵敏度和吞吐量
光输入采用自由空间或光纤耦合
用户友好的软件界面
小巧轻便，USB-C接口连接电脑
典型应用：
监测光源发射
吸收/透射/反射测量
材料表征
光学镀膜测量
参数：
| 波长范围 | 400 - 4500 nm |
| 光谱采集速率 | 0.5 - 3 Hz |
| 光谱分辨率 | 10 cm-1 |
| 光输入方法 | 光纤耦合或准直输入* |
| 光纤耦合输入 | 光纤纤芯直径 ≤ 1mm，NA = 0.33 (f/1.5) |
| 准直输入 | 10mm直径孔径 |
| 光电探测器 | Si、InGaAs、2级TE冷却 PbSe |
| 接口 | USB-C 2.0 |
| 尺寸 | 180 × 160 × 55mm |
| 重量 | 1.5 kg |
| 软件 | Windows 10/11操作系统 提供图形用户界面和应用程序接口 |
* 可通过软件进行切换
彩色塑料薄膜透射光谱示例